2025年4月，我司成交一台MX608非接触电阻率测试仪，最大可测8寸Wafer，可测量Si/SiC等导电衬底电阻率和TTV。...

2023年11月，我司取得江阴某先进封装FAB一台SR-Mapping膜厚仪订单，波段380-1000nm，厚度范围15nm-150um，用于膜厚和反射率工艺监控。...

2023年6月，我司成交一台Flex-Mount原子力显微镜，最大可测8寸Wafer，可测量晶圆的台阶及粗糙度。...

2023年2月，我司取得南京某光电企业一台SR-C膜厚仪订单，波段380-1650nm，用于膜厚和反射率工艺监控。...

2022年9月，我司成交一台FSM 128L薄膜应力仪，最大可测12寸Wafer，可测量薄膜的Stress/Bow。...

2022年3月，我司成交一台333A四探针测试仪，最大可测12寸Wafer，可测量金属薄膜厚度及方块电阻。...

2022年8月，我司成交一台SE-VM光谱椭偏仪，波长380-1650nm，用于VCSEL光芯片中薄膜厚度和折射率测量。...

2022年10月，我司成交一台KC-31空气粒子计数器，适合监控千级无尘室颗粒状况。...