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富有半导体经 验的专业团队
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一对一服务,一分钟响应 好的服务是我们秉承的原则
质量保障,性价比高 价格合理、物超所值
上海求峰仪器设备有限公司由具有多年半导体经验的资深技术团队发起,专注于半导体光刻及曝光、膜厚测量、缺陷检测、电性测量、应力测量等,我们立志成为半导体光刻Litho、量测Metrology和检测Inspection的专业级供应商,为科研、前道工艺开发、封装、光刻胶、硅片/化合物半导体衬底和外延等领域贡献力量。...
产品展示
无掩膜激光直写 DL-series
无图案晶圆缺陷检测仪Lumina AT1
薄膜应力仪 FSM 128NT
四探针测试仪 280SI
椭偏仪 SE-VM
自动mapping膜厚仪 SR-Mapping
非接触电阻率测试仪 MX608
单点晶圆厚度测试仪 MX3012
成功案例
2023年6月,我司成交一台Flex-Mount原子力显微镜,最大可测8寸Wafer,可测量晶圆的台阶及粗糙度。...
2023年2月,我司取得南京某光电企业一台SR-C膜厚仪订单,波段380-1650nm,用于膜厚和反射率工艺监控。...
2022年9月,我司成交一台FSM 128L薄膜应力仪,最大可测12寸Wafer,可测量薄膜的Stress/Bow。...
2022年3月,我司成交一台333A四探针测试仪,最大可测12寸Wafer,可测量金属薄膜厚度及方块电阻。...
2022年8月,我司成交一台SE-VM光谱椭偏仪,波长380-1650nm,用于VCSEL光芯片中薄膜厚度和折射率测量。...
2022年10月,我司成交一台KC-31空气粒子计数器,适合监控千级无尘室颗粒状况。...
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